吉時(shí)利Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀特點(diǎn)：

大膽發(fā)現(xiàn)從未如此容易。 4200A-SCS 參數(shù)分析儀可將檢定和測(cè)試設(shè)置的復(fù)雜程度降低高達(dá) 50%，提供清晰且不折不扣的測(cè)量和分析功能。 另外，嵌入式測(cè)量專業(yè)知識(shí)（業(yè)界*）可提供測(cè)試指南并讓您對(duì)結(jié)果充滿信心。

• 內(nèi)置測(cè)量視頻采用英語、中文、日語和韓語
• 使用數(shù)百個(gè)用戶可修改應(yīng)用測(cè)試開始您的測(cè)試
• 自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)

?簡單地說，4200A-SCS 可以*自定義且全面升級(jí)，您可以對(duì)半導(dǎo)體設(shè)備、新材料、有源/無源組件、晶片級(jí)可靠性、故障分析、電化學(xué)或幾乎任何類型的樣本執(zhí)行電氣檢定和評(píng)估。  

• NBTI/PBTI 測(cè)試
• 隨機(jī)電報(bào)噪聲
• 非易失內(nèi)存設(shè)備
• 穩(wěn)壓器應(yīng)用測(cè)試

?4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動(dòng)和半自動(dòng)晶片探測(cè)器和低溫控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

• 點(diǎn)擊”測(cè)試定序
• “手動(dòng)”探測(cè)器模式測(cè)試探測(cè)器功能
• 假探測(cè)器模式無需移除命令即可實(shí)現(xiàn)調(diào)試

吉時(shí)利Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀參數(shù)：

直流電流-電壓(I-V) 范圍  10 aA - 1A  0.2 µV - 210 V

電容-電壓(C-V) 范圍  1 kHz - 10 MHz   ± 30V 直流偏置

脈沖 I-V范圍  ±40 V (80 V p-p)，±800 mA   200 MSa/s，5 ns 采樣率

1.型號(hào)：4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件

 210V/100mA，0.1 fA 分辨率
對(duì)于兩端和三端設(shè)備，MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括：

• 4200A-SCS 參數(shù)分析儀
• (2) 4200-SMU 模塊
• (1) 4200-PA 前置放大器
• (1) 8101-PIV 測(cè)試夾具與采樣設(shè)備

2.型號(hào)：4200A-SCS-PK2 高分辨率 IV 和 CV 套件

 210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz
對(duì)于高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括：

• 4200A-SCS 參數(shù)分析儀
• (2) 4200-SMU 模塊
• (1) 4200-PA 前置放大器
• (1) 4210-CVU 電容-電壓模塊
• (1) 8101-PIV 測(cè)試夾具與采樣設(shè)備

3.型號(hào)：4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件

 210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz
對(duì)于功率設(shè)備、高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 設(shè)備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：

• 4200A-SCS 參數(shù)分析儀
• (2) 4200-SMU 模塊
• (2) 4210-SMU
• (2) 4200-PA 前置放大器
• (1) 4210-CVU 電容-電壓模塊
• (1) 8101-PIV 測(cè)試夾具與采樣設(shè)備

4.4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件

 用于使用 CMOS 技術(shù)套件進(jìn)行復(fù)雜的 NBTI 和 PBTI 測(cè)量 4200-BTI-A 包括：

• (1) 4225-PMU 超快 I-V 模塊
• (2) 4225-RPM 遠(yuǎn)程前置放大器/開關(guān)模塊
• 自動(dòng)化檢定套件 (ACS) 軟件
• 超快 BTI 測(cè)試項(xiàng)目模塊
• 電纜